本公司為銷售卡爾德意志 PC-LEPTOSKOP 2050 涂層測厚儀，除此之外我們還經(jīng)銷水質(zhì)分析儀，煙氣分析儀，紅外測溫儀等產(chǎn)品，如果您對 PC-LEPTOSKOP 2050 涂層測厚儀或者其他產(chǎn)品感興趣的話，歡迎撥打本網(wǎng)站的客服熱線!

產(chǎn)品簡介：

PC-LEPTOSKOP是由KARL DEUTSCH 公司提供膜層測厚儀的探頭，它只需和普通電腦的串口線相連。所以普通膜層測厚儀的功能均可通過與WINDOWS操作系統(tǒng)匹配的通用電腦軟件STATWIN 2002來實現(xiàn)。

　　當(dāng)啟動statwin 2002時，一個真實的涂層測厚儀顯示圖像*可以顯示在個人電腦的屏幕上。 所有功能操作只需點擊一下鼠標(biāo)或鍵盤。 STATWIN 2002用statwin 2002 ，可以分批儲存和管理幾乎任何數(shù)量的測量數(shù)據(jù)。 文件和歸檔幾乎是無限的。 此外，該軟件附帶了大量的統(tǒng)計功能，可以實現(xiàn)測量評估和批次。

　　除了有測量鐵磁性基體上非鐵磁涂層的厚度(如鋼鐵上的漆層或鉻層)和導(dǎo)電材料上的非導(dǎo)電層涂層的厚度(如非鐵金屬上的漆層) ，測量范圍到1200 μ m的標(biāo)準(zhǔn)探頭，我們還有特殊高精度的、能測量不同的小部位或復(fù)雜的幾何形狀的探頭，雙晶探頭可測量厚度高達12.5mm，我們同時還提供完整的配件。 為固定測試有特別的設(shè)計， PC-leptoskop 2050是一個*的膜層測厚儀。

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