日本OLYMPUS（奧林巴斯）　OLS4100 3D測量激光顯微鏡

型號：OLS4100 3D測量激光顯微鏡

品牌：日本OLYMPUS（奧林巴斯）

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日本OLYMPUS（奧林巴斯）

“將社會價值引入公司內(nèi)部”這個是奧林巴斯企業(yè)的管理哲學。作為一名社會的成員，奧林巴斯在處理與個體關(guān)系中扮演著重要的作用。因此，奧林巴斯采納了將社會價值引入公司內(nèi)部，接受社會價值觀作為其商業(yè)思想的重要組成部分。自從那時，奧林巴斯明確了自己的位置，主要是一個相機生產(chǎn)商和發(fā)達的胃內(nèi)照相...[查看更多]

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美國OLYMPUS OLS4100 3D測量激光顯微鏡由愛儀器儀表網(wǎng)代理，本產(chǎn)品是通過非接觸的方式進行樣品表面三維形貌觀察和測量的3D測量激光顯微鏡，現(xiàn)在熱賣中，如需購買，可通過ai1718.com的客服熱線聯(lián)系我們!

產(chǎn)品簡介：
?OLS4100是一款激光掃描顯微鏡，通過非接觸的方式進行樣品表面三維形貌觀察和測量
?*高分辨率達10nm，可以方便快捷地獲取影像，同時配備豐富的測量功能
?高度分辨率10 nm，輕松測量微小輪廓
?克服反射率的差異
?適用于透明層
?多層模式可實現(xiàn)對透明樣品的頂部的透明層進行觀察和測量
?即使在玻璃基片上覆有一層透明樹脂層，也可測量出各層的形狀和粗糙度以及表面覆膜的厚度
?使用接觸式表面粗糙度測量儀，無法測量比探針的針尖直徑更細微的表面輪廓
?OLS4100 有著微小的激光光斑直徑，所以能夠?qū)ξ⒓毿螤钸M行高分辨率的粗糙度測量
?使用接觸式表面粗糙度測量儀測量柔軟的樣品時，樣品容易受到探針損傷而變形
?使用接觸式表面粗糙度測量儀，其探針無法進入微米級的區(qū)域，所以不能對這些區(qū)域的特征進行測量
?而OLS4100 可以正確定位，能輕松測量出特定微小區(qū)域的粗糙度
?清晰鮮明的3D 彩色影像
?更加真實地再現(xiàn)表面, 激光DIC（激光微分干涉）
?用于簡易3D 成像的智能掃描

產(chǎn)品特點：
?采用了有著高N.A. 的專用物鏡和專用光學系統(tǒng)，LEXT OLS4100 可以*地測量一直以來無法測量的有尖銳角的樣品這有利于粗糙度的測量
?由于采用405 nm 的短波長激光和更高數(shù)值孔徑的物鏡，OLS4100 達到了0.12 μm 的平面分辨率
?可以對樣品的表面進行亞微米的測量
?結(jié)合高精度的0.8 nm 的光柵讀取能力和軟件算法，OLS4100 可以分辨出10 nm 的高度差
?OLS4100 采用了雙共焦系統(tǒng)，結(jié)合高靈敏度的探測器，那些具有不同反射率材料的樣品，也能在OLS4100 上獲得鮮明的影像
?LEXT OLS4100 全新的多層模式則可以識別多層樣品各層上反射光強度的峰值區(qū)域
?將各層設(shè)為焦點，這樣即可實現(xiàn)對透明樣品上表面的觀察和測量
?也可以對多層樣品的各層進行分析和厚度測量
?通常表示測量儀器的測量精度的，有2 個指標："正確性"，即測量值與真正值的接近程度，和"重復性"，即多次測量值的偏差程度
?OLS4100 是業(yè)界*同時保證了"正確性"和"重復性"的激光掃描顯微鏡
?OLS4100 從物鏡制造到成品全部在奧林巴斯工廠內(nèi)完成，并按照一系列嚴格的標準進行全面的檢驗并確保產(chǎn)品的質(zhì)量后方才出廠
?交付產(chǎn)品時，由選拔出來的技術(shù)人員，在實際使用環(huán)境中執(zhí)行校正和*后的調(diào)整
?OLS4100 采用了白色的LED 光源和高色彩保真度的CCD 照相裝置以生成清晰、色彩自然的影像，所得影像可以與*的光學顯微鏡相*
?亮度和對比度之間更加優(yōu)化的平衡, HDR（高動態(tài)范圍）影像
?為了排除來自外部的影響，穩(wěn)定測量和成像，OLS4100 機座內(nèi)置了由螺旋彈簧和阻尼橡膠組成的"復合減震機構(gòu)"以穩(wěn)定操作環(huán)境
?可以把OLS4100 放在普通的桌子進行測量作業(yè)，不需要專用的防震平臺
?新的超快模式獲取掃描影像的速度是傳統(tǒng)快速模式的2 倍，約是精細模式的9 倍
?OLS4100 還配備了帶寬掃描模式，用于測量有限的目標區(qū)域，測量性能比傳統(tǒng)模式快1/8
?要使用智能掃描模式獲取影像時，只需一鍵操作即可
?OLS4100 在測量后可使用一鍵操作創(chuàng)建報表，而且使用編輯功能可以定制各個報表模板
?為用戶設(shè)計的詳細的向?qū)Чδ苋∠巳唛L的培訓，讓新手也能快速簡單地進行操作

LSM 部分		光源、檢出系統(tǒng)	光源：405 nm 半導體激光檢出系統(tǒng)：光電倍增管
		總倍率	108x ～ 17,280x
		變焦	光學變焦1x ～ 8x
測量	平面測量	重復性	00x: 3σn-1=0.02 μm
	平面測量	正確性	測量值的±2%以內(nèi)
	高度測量	方式	物鏡轉(zhuǎn)換器上下驅(qū)動方式
		行程	10 mm
		內(nèi)置比例尺	0.8 nm
		移動分辨率	10 nm
		顯示分辨率	1 nm
		重復性	50x: σn-1=0.012 μm
		正確性	0.2 ＋ L/100 μm 以下（L＝測量長度μm）
彩色觀察部分		光源、檢查系統(tǒng)	光源：白色LED 檢查系統(tǒng)：1/1.8 英寸200 萬像素單片CCD
彩色觀察部分		變焦	數(shù)碼變焦1x ～ 8x
物鏡轉(zhuǎn)換器			6 孔電動物鏡轉(zhuǎn)換器
微分干涉單元			微分干涉滑片：U-DICR 內(nèi)置偏振光片單元
物鏡			明視場平面半消色差透鏡5x、10x LEXT 專用平面復消色差透鏡20x、50x、100x
Z 對焦部分行程			100 mm
XY 載物臺			100×100 mm（電動載物臺），選件: 300×300 mm（電動載物臺）

物鏡
型號	倍率	視場	工作距離（WD）	數(shù)值孔徑（N/A）
MPLFLN5X	108x-864x	2,560-320 μm	20.0 mm	0.15
MPLFLN10X	216x-1,728x	1,280-160 μm	11.0 mm	0.30
MPLAPON20XLEXT	432x-3,456x	640-80 μm	1.0 mm	0.60
MPLAPON50XLEXT	1,080x-8,640x	256-32 μm	0.35 mm	0.95
MPLAPON100XLEXT	2,160x-17,280x	128-16 μm	0.35 mm	0.95